一句話總結：汎銓科技於 2026 年 3 月 25 日正式向智慧財產及商業法院提告光焱科技，指控其侵犯「光損偵測裝置」發明專利，並求償新台幣 2 億元，以捍衛公司在半導體高階檢測領域的智慧財產權與研發成果。

核心要點

1. 汎銓科技董事長柳紀綸於 2026 年 3 月 25 日表示，公司發現光焱科技涉及侵犯汎銓所擁有的「光損偵測裝置」發明專利。
2. 汎銓已於同日正式向智慧財產及商業法院提起訴訟，主張光焱科技侵害汎銓的中華民國第 I870008B 號發明專利。
3. 汎銓訴請法院判令相關被告公司及個人立即停止所有侵權行為，並請求損害賠償新台幣 2 億元，旨在維護公司長期投入研發所產生的競爭優勢。
4. 柳紀綸強調，汎銓專攻半導體核心的高階先進製程材料檢測分析與 AI 暨矽光子檢測等業務，在全球半導體與 AI 領先市場具備領導能力。
5. 汎銓自主研發的「光損偵測裝置」技術，已成功取得臺灣、日本及美國的發明專利，並已組裝 3 台矽光子量測分析設備。
6. 此次提告是為避免光焱持續侵害汎銓的智慧財產權，並防堵可能引發的技術及重要機密外洩等風險，以維護臺灣整體科技產業的價值。

一句話結論

這起專利侵權訴訟不僅彰顯了汎銓科技對其核心技術的堅定保護立場，也再次提醒業界智慧財產權在半導體高科技產業中的關鍵價值，以及防範技術外流的重要性。