台灣半導體檢測產業正掀起一場關鍵的矽光子專利大戰。龍頭廠商汎銓科技近日向智慧財產及商業法院提告，指控同業光焱科技侵害其「光學損傷檢測裝置」發明專利，並提出高達新台幣2億元的損害賠償。這場訴訟不僅是國內矽光子領域的首例，更凸顯AI時代下，高速傳輸技術核心檢測能力的市場主導權爭奪，讓這兩家台股熱門檢測股陷入前所未有的生存攻防。
矽光子專利戰火點燃：汎銓強勢提告光焱
這場備受矚目的法律戰，核心圍繞在先進的矽光子檢測技術。汎銓科技董事長柳紀綸日前公開表示，公司已正式向智慧財產及商業法院提出訴訟，指控光焱科技涉嫌侵害其擁有的「光學損傷檢測裝置」發明專利（專利號碼I870008B）。這項專利被汎銓視為其在矽光子失效分析領域的「秘密武器」，已佈局長達六年之久，並在全球多國取得專利權，包括台灣、日本與美國。
汎銓董事長柳紀綸語氣堅定地指出，傳統電路（IC）的故障點相對容易定位，但光的IC卻極難找出問題所在。他形容，如何精確定位「光損」，就是整個矽光子失效分析（FA）的「入海口」，若無法找到這個關鍵點，後續所有分析都將是空談。他更進一步說明，汎銓的這套搭載IR-NIR CCD感測技術，是與美系AI巨頭如Meta、NVIDIA在研發階段一路合作磨合的成果，專利內容寫得相當明確，只要在機台上裝載IR相機搜尋矽光子訊號，就可能落入其權利範圍，強調取證上並不困難。
檢測雙雄各執一詞：汎銓堅拒和解，光焱強調自主研發
面對汎銓的強勢出擊，光焱科技隨即透過重大訊息回應。光焱發言人廖清霖協理表示，截至目前為止，公司僅從公開資訊觀測站得知汎銓的單方面公告，尚未收到任何法院正式送達的起訴狀或法律訴訟資料。光焱董事長柯歷亞亦對外強調，公司在光學檢測與光電子晶片檢測領域深耕長達16年，旗下的核心產品均為團隊「自主研發」的自有技術，並無必要也未曾套用他家公司的技術。
汎銓方面則展現了極大的市場野心。柳紀綸董事長在記者會上直言不諱地拒絕了與同業「和解」或「授權」的可能性，他明確表示：「如果是競爭同業，我絕對不會答應。和解的前提就是他不能再做，我要的是市場寡佔，這點沒有空間可以談。」汎銓的企圖心是將在矽光子定位分析市場的市佔率推升至90%以上。據透露，汎銓不只提供分析服務，更預計在今年底推出量產版的檢測機台，單台售價預估將突破新台幣1億元，首批正式銷售版機台預計在10月亮相，展現其從服務延伸至設備銷售的策略轉型。
AI世代關鍵戰場：矽光子技術與市場版圖爭奪
這場半導體檢測領域的專利戰，其背後反映的是AI應用浪潮下，資料傳輸速度與頻寬需求的爆炸性成長。矽光子與共同封裝光學（CPO）技術，被業界普遍視為半導體下一個十年的關鍵技術。汎銓與光焱作為此領域的先行者，此刻的正面對決，意味著先進技術的競爭已從單純的製程端，延伸至檢測與關鍵設備的專利防線。
汎銓董事長柳紀綸強調，公司目前的定位已不再僅限於提供驗證分析服務，而是成為具備「裝置銷售」能力的技術領航者。這場高達「兩億元之爭」的法律訴訟，究竟是為了捍衛專利權，抑或是為了搶佔新興市場的關鍵卡位戰，最終將交由司法程序給出答案。而這場戰役的結果，勢必將對台灣乃至全球的矽光子產業生態，產生深遠的影響。
矽光子專利戰常見問答
- 汎銓科技為何提告光焱科技？
汎銓科技指控光焱科技侵害其「光學損傷檢測裝置」發明專利（I870008B），並要求新台幣2億元的損害賠償。
- 光焱科技對此訴訟有何回應？
光焱科技表示尚未收到法院正式訴狀，並強調公司深耕光學檢測領域16年，核心技術皆為自主研發，並無套用他家技術。
- 這場專利戰對矽光子產業有何意義？
這不僅是台灣矽光子產業的首例專利戰，更突顯了在AI應用快速發展下，矽光子技術在半導體檢測領域的關鍵地位，以及市場主導權的激烈爭奪。
