針對汎銓科技日前重訊指控光焱科技侵害其「光損偵測裝置」發明專利並求償新台幣2億元，光焱科技於26日發布新聞稿嚴正反擊。光焱強調，汎銓所持專利為舊世代技術，無法涵蓋光焱基於高光譜成像的新世代檢測方案，主張侵權指控在技術層面上站不住腳，並譴責此舉意圖透過法律手段干擾市場正常運作。

專利侵權爭議浮現：汎銓提告光焱，求償兩億元

汎銓科技於25日透過重大訊息公告，指控光焱科技侵害其持有的第 I870008B 號「光損偵測裝置」發明專利，並對光焱科技提出新台幣2億元的損害賠償訴訟。此舉迅速引發業界關注，涉及兩家在半導體檢測領域佔有重要地位的廠商。

光焱科技發言人廖清霖於26日對此提出回應，表示截至目前為止，公司尚未收到任何來自法院的相關訴訟函件。廖清霖進一步指出，對於同業在未經司法程序確認前，即試圖透過媒體發布資訊，企圖透過法律手段干擾市場運作並阻礙產業創新，光焱科技對此深感遺憾，並嚴正譴責此類不正當的競爭手段。光焱科技承諾將積極配合後續司法程序進行答辯，以全力捍衛公司、客戶及全體股東的合法權益。同時，光焱科技也強調，目前公司的營運、業務及設備出貨皆正常進行，財務業務狀況亦不受任何影響。

技術世代差異成核心爭點：光焱強調自主研發與創新

光焱科技在新聞稿中明確指出，此次專利爭議的核心在於雙方檢測技術的「世代」差異。光焱科技表示，汎銓所聲稱的專利，其技術方案係採用傳統的「金相顯微鏡」進行光損量測。相較之下，光焱科技的核心技術是基於次世代、更為先進的「高光譜成像技術感測模組」，這項技術能夠高度整合於客戶端的系統，例如探針台或電測機，直接執行矽光子光學檢測。其中，光損檢測僅是光焱在矽光子晶片檢測多功能模組中的其中一項技術應用。光焱科技強調，以舊時代的金相顯微鏡專利，來控告新世代的高光譜影像感測模組，在技術上是完全站不住腳的。

光焱科技深耕光學與光電子晶片檢測領域已長達16年，公司始終秉持尊重智慧財產權的原則，所有核心產品均為團隊自主研發，並未且無須使用其他公司的技術與專利。光焱科技認為，此次汎銓的指控不僅不實，更帶有行銷操作的意圖。

專利有效性與產業邏輯辯證：舊專利能否框限新技術？

針對汎銓在記者會上宣稱其專利曾挺過17項舉發而維持有效，光焱科技亦提出專業見解予以反擊。經檢視公開資料，該專利舉發案之所以不成立，主因在於當時舉發人所提出的證據，是比汎銓專利更為先進的檢測技術與零組件，主管機關因此認定這些先進技術與汎銓採用之傳統金相顯微鏡技術「無關」。光焱科技指出，這恰好證明了汎銓該專利所保障的僅是舊世代技術，進而明確證實光焱科技所採用的高光譜成像系統與汎銓的技術截然不同，自然毫無侵權疑慮。

光焱科技進一步強調，產業界普遍認知，「專利」所保障的是特定的技術實施手段，而非將「光損檢測」這類功能性詞彙註冊為商標來買斷整個市場。光焱科技認為，不能因為汎銓針對其舊技術申請了專利，就無限上綱地認定市場上所有具備「光損檢測」功能的設備皆侵害其權益。若依此邏輯，近期國際光學大廠蔡司（Zeiss）宣布進軍光損檢測領域，難道也構成對汎銓的侵權？光焱科技認為，此例凸顯對方說法在產業技術與法律邏輯上皆有失偏頗，有待司法機關進一步釐清。